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CPV: 38514200
Deutschland – Rastersondenmikroskope – Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung
Zuschlag
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Gewinnermit Quellenhinweis
Bruker Nano GmbHRaster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
5203
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
3298
zugeordnete Firmen
Mittelwert
210.520,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Quellen (1)
OrtBaden-Württemberg