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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl (FIB-SEM)
Zuschlag
Verknüpfte Bekanntmachung über den vergebenen Auftrag. Wettbewerbsdaten liegen noch nicht vor.
GewinnerLos LOT-0001mit Quellenhinweis
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbHCarl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, 73447 Oberkochen
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
5202
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
3297
zugeordnete Firmen
Mittelwert
210.520,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
Quellen (1)
OrtBaden-Württemberg