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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Erneuerung Rasterelektronenmikroskop (FEI XL30)
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13)
Zuschlag
Verknüpfte Bekanntmachung über den vergebenen Auftrag. Wettbewerbsdaten liegen noch nicht vor.
GewinnerLos LOT-0000mit Quellenhinweis
point electronic GmbHErneuerung Rasterelektronenmikroskop (FEI XL30)
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
2215
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
1460
zugeordnete Firmen
Mittelwert
188.000,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
Quellen (1)
OrtSachsen-Anhalt