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CPV: 38540000
Deutschland – Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen – Spectroscopic imaging ellipsometer (ES) with atomic force microscope (AFM)
Zuschlag
Wettbewerb: 2 Angebote in 2/2 Losen (Ø 1 Angebote je Los).
Gewinnermit Quellenhinweis
Park Systems Europe GmbHSpectroscopic imaging ellipsometer (ES) with atomic force microscope (AFM)
GewinnerLos LOT-0000mit Quellenhinweis
Park Systems Europe GmbHSpectroscopic imaging ellipsometer (ES) with atomic force microscope (AFM)
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
8396
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
5686
zugeordnete Firmen
Mittelwert
219.340,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
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