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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Rasterelektronenmikroskop mit Feldemitterquelle
Zuschlag
Wettbewerb: 4 Angebote in 2/2 Losen (Ø 2 Angebote je Los).
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
8392
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
5683
zugeordnete Firmen
Mittelwert
219.500,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment