13.07.2026 Quelle öffnen
← Vergebene Aufträge
Firmenprofil
Tescan GmbH
Historie öffentlich vergebener Aufträge, die diesem Unternehmen zugeordnet wurden.
Website öffnen Gewinne
32
vergebene Aufträge
Volumen
3,1 Mio. €
bekannter Wert
Zuletzt
2026
letzter Zuschlag
Land
DEU
Quelle
ted-v3
Firmenbeschreibung
Noch keine Zusammenfassung vorhanden.
Rechtlicher Name
Nicht verfügbar
Rechtsform
Nicht verfügbar
Registergericht
Nicht verfügbar
Registernummer
Nicht verfügbar
USt-IdNr.
Nicht verfügbar
Impressumsadresse
Nicht verfügbar
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Letzte Anreicherung: -
Modell: -
Auftraggeber-Analyse
Hauptauftraggeber
Nach Anzahl vergebener Aufträge in den letzten 5 Jahren (oberschwellig TED).
32 gewonnene Ausschreibungen
Neueste Zuschläge zuerst, 25 Einträge pro Seite.
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ZuschlagCPV 38511100Nordrhein-WestfalenLos LOT-0000
W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMH UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1. Forschungszentrum Jülich GmbH 216.000 €
22.05.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100Nordrhein-Westfalen
W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1. Forschungszentrum Jülich GmbH 216.000 €
22.05.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 73111000Hamburg
Wartungsvertrag für Tescan Amber FIB/SEM Helmholtz-Zentrum hereon GmbH 280.797 €
09.03.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 73111000HamburgLos LOT-0001
TESCAN GmbH, 44319 Dortmund Helmholtz-Zentrum hereon GmbH 280.797 €
09.03.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38000000Nordrhein-Westfalen
W10-42390329 NanoSpace UHV FIB-SEM und Zubehör für das ER-C. Forschungszentrum Jülich GmbH 216.000 €
24.02.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38000000Nordrhein-WestfalenLos LOT-0000
W10-42390329 NanoSpace UHV FIB-SEM und Zubehör für das ER-C. Forschungszentrum Jülich GmbH 216.000 €
24.02.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50400000Sachsen
PR904444 (VV), Verlängerung des bestehenden Wartungsvertrages für 5 Jahre für das TESCAN Amber X System, Auftrag 4500777144 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. für das Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS 342.575 €
17.02.2026 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50400000SachsenLos LOT-0002
PR904444_Verlängerung Wartung 5 Jahre Servicevertrag für das TESCAN Amber X (VV 4500777144) Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. für das Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS 342.575 €
17.02.2026 Quelle öffnen
10.12.2025 Quelle öffnen
10.12.2025 Quelle öffnen
ZuschlagSachsen
Lieferung eines SEM Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung
30.09.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50530000Nordrhein-Westfalen
W10-42381719 Wartungsvertrag über 3 Jahre für ein FIB-SEM der Fa. TESCAN, betrieben im IET-1. Forschungszentrum Jülich GmbH
14.08.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50530000Nordrhein-WestfalenLos LOT-0000
W10-42381719 Wartungsvertrag über 3 Jahre für ein FIB-SEM der Fa. TESCAN, betrieben im IET-1. Forschungszentrum Jülich GmbH 221.000 €
14.08.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38000000Nordrhein-Westfalen
3. Vergabe (WH) FGW Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e. V.
18.07.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38000000Nordrhein-WestfalenLos LOT-0001
Röntgen-CT mit in-situ Zug-Druck-Stage und Temperierung FGW Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e. V.
18.07.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50000000Sachsen-Anhalt
Wartungsvertrag FIB Geräte Max-Planck-Institut für Mikrostrukturpysik
31.01.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100Nordrhein-Westfalen
2. Vergabe FGW Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e. V.
31.01.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100Nordrhein-WestfalenLos LOT-0001
FIB-REM mit Analytik (Grundgerät) FGW Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e. V.
31.01.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 50000000Sachsen-AnhaltLos LOT-0000
Wartungsvertrag FIB Geräte Max-Planck-Institut für Mikrostrukturpysik
31.01.2025 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100DE
Rasterelektronenmikroskop mit Feldemitterquelle Technische Hochschule Ingolstadt
19.11.2024 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100DELos LOT-0001
Rasterelektronenmikroskop mit Feldemitterquelle Technische Hochschule Ingolstadt
19.11.2024 Quelle öffnen
30.10.2024 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38000000ThüringenLos LOT-0001
Rasterelektronenmikroskop Friedrich-Schiller-Universität Jena
30.10.2024 Quelle öffnen
ZuschlagCPV 38511100Schleswig-Holstein
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
01.10.2024 Quelle öffnen
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