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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W
Zuschlag
Wettbewerb: 4 Angebote in 2/2 Losen (Ø 2 Angebote je Los).
Gewinnermit Quellenhinweis
Tescan GmbHGewinnerLos LOT-0000mit Quellenhinweis
Tescan GmbH Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
2381
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
1569
zugeordnete Firmen
Mittelwert
198.000,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Thermo Fisher Scientific GmbH31 Zuschläge · 1 %3,3 Mio. €Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH28 Zuschläge · 1 %1,8 Mio. €Agilent Technologies Deutschland GmbH18 Zuschläge · 1 %279.023,5 €C.B. König Feuerschutz GmbH12 Zuschläge · 1 %474.372,3 €MAN Truck und Bus Deutschland GmbH12 Zuschläge · 1 %888.480,5 €
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Coherent Europe B.V.08.04.2026
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KLA Corporation24.02.2026
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Keysight Technologies13.02.2026
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EV Group E. Thallner19.12.2025
Quellen (1)
OrtSchleswig-Holstein