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CPV: 31712330
Deutschland – Halbleiter – Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern (HHI-05) - PR880078-3220-P
Zuschlag
Verknüpfte Bekanntmachung über den vergebenen Auftrag. Wettbewerbsdaten liegen noch nicht vor.
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
3095
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
2272
zugeordnete Firmen
Mittelwert
275.080,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
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