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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
Zuschlag
Verknüpfte Bekanntmachung über den vergebenen Auftrag. Wettbewerbsdaten liegen noch nicht vor.
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
2374
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
1580
zugeordnete Firmen
Mittelwert
188.000,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
PR924050-2690-P
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PR876527-2690-P
point electronic GmbH08.12.2025
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ATV Systems GmbH19.05.2026
Quellen (1)
OrtSachsen-Anhalt