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CPV: 38511100
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Zuschlag
Verknüpfte Bekanntmachung über den vergebenen Auftrag. Wettbewerbsdaten liegen noch nicht vor.
Vergabe-Intelligence
Historische Zuschlagsmuster
Ähnliche vergebene Aufträge nach Auftraggeber, CPV-Gruppe und Region.
Historie
2374
ähnliche Zuschläge
Gewinnerfeld
1580
zugeordnete Firmen
Mittelwert
188.000,0 €
bekannter Zuschlagswert
Breites Gewinnerfeld Wertspanne belastbar Aktives Segment
Auffällige Gewinner
Jüngste ähnliche Zuschläge
PR924050-2690-P
TESCAN GmbH10.12.2025
PR876527-2690-P
point electronic GmbH08.12.2025
PR1017819-2690-P
Hitech BV13.11.2025
PR1119714-2380-P
ATV Systems GmbH19.05.2026
Quellen (1)
OrtSachsen-Anhalt